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軸承輪廓度檢測解決方案
2023-03-14 滾動軸承組成、分類滾動軸承一般由內圈、外圈、滾動體和保持架組成。對于密封軸承，再加上潤滑劑和密封圈（或防塵蓋）。這就是軸承的全部組成。滾動軸承分類滾動軸承代號：軸承型號一般有前置代號，基本代號和后置代號組成。一般情況下，軸承型號只用基本型號表示。基本型號一般包含三部分，類型代號，尺寸代號和內徑代號。后置代號是用字母和數字等表示軸承的結構、公差及材料的特殊要求等。前置代號用來表示軸承的分部件，用字母表示。行業應用軸承是裝備制造業中重要、關鍵零部件，直接決定著裝備和機器的性能和可...
賦能鋰電行業|激光跟蹤儀高效檢測卷繞機墻板平面度
2023-03-14 鋰電卷繞機為新能源電池生產過程中的一款大型設備。墻板是鋰電卷繞機重要組成部分，作為電芯傳動輥軸的安裝載體，其平面度直接影響到安裝在墻板上輥軸的垂直度及平行度，進而影響卷繞電芯材料的最終品質及生產效率，由于其尺寸大，要求精度高，普通檢測儀器設備無法滿足測量需求。激光跟蹤儀作為一款高精度、高效率、實時跟蹤測量的大尺寸三維空間測量儀器，能快速測量鋰電卷繞機墻板的平面度，了解墻板各部位平面度狀態，更可對平面上任意點實時顯示平面度數值，對于墻板的平面度測量調整效果非常明顯。GTS激光跟...
共聚焦顯微鏡在材料生產領域竟有如此多用途
2023-03-01 在材料生產領域中，如需要分析金屬材料/部件粗糙度的時候，不管是使用原子力顯微鏡還是臺階儀，都沒有辦法同時兼顧分辨率、掃描區域以及掃描速度。而基于共聚焦顯微測量技術的VT6000共聚焦顯微鏡，配備了真彩相機并提供還原的3D真彩圖像，對細節的展現纖毫畢現，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。并且可以在保證分辨率的同時滿足測量速度的需求。VT6000共聚焦顯微鏡1、非接觸式掃描，操作簡便，樣品即放即掃。應用：墊圈共聚焦顯微鏡非接觸式掃描測量速度比接觸式測量快數百倍。能以更高的精度對...
教你使用白光干涉儀的拼接測量功能
2023-03-01 白光干涉儀的基本原理是通過不同的光學元件形成參考光路和探測光路，是利用干涉原理測量光程差，從而確定相關物理量的光學儀器。結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等，可以對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，然后通過一體化操作的測量分析軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，從而獲得反映器件表面質量的2D、3D參數，實現器件表面形貌3D測量。測量分析軟件1）測量與分析同界面操作，無須切換，測量數據自動統計，實現了快速批量測量的功能；2）可視化窗口，便于用戶實時觀察掃描過程；...
想了解關于激光干涉儀更多的，瞧這里
2023-02-24 激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。可以在恒溫，恒濕，防震的計量室內檢定量塊，量桿，刻尺和坐標測量機等。它既可以對幾十米的大量程進行精密測量，也可以對手表零件等微小運動進行精密測量，既可以對幾何量如長度、角度.直線度、平行度、平面度、垂直度等進行測量，也可以用于特殊場合，諸如半導體光刻技術的微定位和計算機存儲器上記錄槽間距的測量等等。激光干涉儀是建立在塞曼效應、牽引效應和多...
共聚焦顯微測量技術在汽車工業上的應用
2023-02-22 高分辨率分析表面形貌對確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學性能及表面質量等相關參數具有重要意義。在汽車工業中，汽車關鍵部位微型化和納米化的表面結構對于其表面特性具有很大的影響，燃料供應和驅動技術中的關鍵部件必須經過精密制造和檢驗。而VT6000共聚焦顯微鏡的非接觸式共聚焦顯微測量技術能精確地確定氣缸運行缸孔表面、連桿、凸輪軸、涂層或金屬板在實驗室或生產過程中的表面結構質量。1、金屬板通過軋制形成的油穴可以用于儲油而且能夠改善金屬板成型性能。共聚焦顯微鏡除粗糙度評價標準外，還可以計...
白光干涉儀和共聚焦顯微鏡的區別
2023-02-22 對于現代愈發復雜的工藝檢測，諸如半導體、電子封裝及光學加工等產業中，由于表面微觀輪廓結構的準確性決定著產品的功能和效能，所以不管是拋光表面還是粗糙表面的工件（諸如半導體硅片及器件、薄膜厚度、光學器件表面、其他材料分析及微表面研究），都需要測量斷差高度、粗糙度、薄膜厚度及平整度、體積、線寬等。同為微納米級表面光學分析儀器，白光干涉儀和激光共聚焦顯微鏡都具有非接觸式、高速度測量、高穩定性的特點，都有表征微觀形貌的輪廓尺寸測量功能，適用范圍廣，可測多種類型樣品的表面微細結構。但白光...
白光干涉儀的測量原理
2023-02-21 一、通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。二、原理過程：(1)利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。(2)測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程...

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